產品中心
Product Center
熱門搜索：
JNM-ECZR 系列核磁共振譜儀
軟X射線分析譜儀
液氮液氦回收系統(tǒng)
ROHS金屬成分分析儀
JSM-IT700HR日本電子掃描電鏡
JNM-ECZS 系列 核磁共振譜儀
IB-19530CP日本電子JEOL截面拋光儀制樣設備
SEM掃描電鏡
JCM-7000 NeoScope™日本電子臺式掃描電鏡
掃描電鏡價格
JCM-7000 NeoScope™JEOL臺式掃描電子顯微鏡
JSM-IT510日本電子SEM
EM-09100IS離子切片儀
JXA-iHP200F 場發(fā)射電子探針顯微分析儀
JNM-ECZL 系列 核磁共振譜儀
IB-19530CP截面樣品制備裝置
產品簡介
EM-09100IS 離子切片儀用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6°）的氬離子束通過遮光帶照射樣品，大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質量也好，對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
| 品牌 | 其他品牌 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 國產 | 應用領域 | 化工,電子,綜合 |
EM-09100IS離子切片儀用于TEM、STEM、SEM、EPMA和AUGER樣品制備的創(chuàng)新方法：制備薄膜樣品除了需要將樣品切成矩形薄片外，不需要溶劑或化學試劑及前處理（打磨或凹坑研磨），比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6°）的氬離子束通過遮光帶照射樣品，大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質量也好，對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
EM-09100IS離子切片儀的主要特點:高質量的透射電鏡樣品的前處理快速制備無需復雜的前處理。
1.度的表面損傷。
2.高質量的透射電鏡樣品的前處理。
3.快速制備。
4.無需復雜的前處理。
5.最小限度的表面損傷。
當前位置：
上一個：
返回列表
